Tóm tắt: Bài báo trình bày cơ sở lý thuyết tính toán ảnh hưởng của sự thay đổi
nhiệt độ dải rộng lên hệ quang vật kính ảnh nhiệt và đưa ra các giải pháp bù ảnh
hưởng của sự thay đổi đó. Khi nhiệt độ thay đổi dẫn đến các thông số chiết suất,
bán kính cong, độ dày và tiêu cự của hệ quang vật kính thay đổi, gây ra lượng
defocus làm giảm chất lượng tạo ảnh của vật kính. Giải pháp chủ động cơ điện với
cảm biến nhiệt sẽ tính toán sự biến đổi nhiệt độ, và tự đông bù lượng defocus sinh
ra do sự thay đổi đó. Kết quả tính toán cho thấy, việc sử dụng giải pháp chủ động
cơ điện sẽ đảm bảo chất lượng ảnh của vật kính được giữ nguyên trong dải nhiệt độ
làm việc tương đối lớn (-100C ÷ 600C).
9 trang |
Chia sẻ: thanhle95 | Lượt xem: 419 | Lượt tải: 0
Bạn đang xem nội dung tài liệu Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi chất lượng tạo ảnh của vật kính ảnh nhiệt khi nhiệt độ thay đổi và giải pháp chủ động cơ điện bù nhiệt, để tải tài liệu về máy bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
Kỹ thuật điện tử
H. A. Tú, , Đ. D. Điện, “Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi cơ điện bù nhiệt.” 50
NGHIÊN CỨU, TÍNH TOÁN SỰ THAY ĐỔI CHẤT LƯỢNG
TẠO ẢNH CỦA VẬT KÍNH ẢNH NHIỆT KHI NHIỆT ĐỘ
THAY ĐỔI VÀ GIẢI PHÁP CHỦ ĐỘNG CƠ ĐIỆN BÙ NHIỆT
Hoàng Anh Tú
1*, Trần Quốc Tuấn1 , Lê Văn Đại1, Đỗ Doanh Điện2
Tóm tắt: Bài báo trình bày cơ sở lý thuyết tính toán ảnh hưởng của sự thay đổi
nhiệt độ dải rộng lên hệ quang vật kính ảnh nhiệt và đưa ra các giải pháp bù ảnh
hưởng của sự thay đổi đó. Khi nhiệt độ thay đổi dẫn đến các thông số chiết suất,
bán kính cong, độ dày và tiêu cự của hệ quang vật kính thay đổi, gây ra lượng
defocus làm giảm chất lượng tạo ảnh của vật kính. Giải pháp chủ động cơ điện với
cảm biến nhiệt sẽ tính toán sự biến đổi nhiệt độ, và tự đông bù lượng defocus sinh
ra do sự thay đổi đó. Kết quả tính toán cho thấy, việc sử dụng giải pháp chủ động
cơ điện sẽ đảm bảo chất lượng ảnh của vật kính được giữ nguyên trong dải nhiệt độ
làm việc tương đối lớn (-100C ÷ 600C).
Từ khóa: Vật kính ảnh nhiệt; Defocus; Chủ động cơ điện.
1. MỞ ĐẦU
Đặc trưng của vật liệu quang học có ảnh hưởng lên hệ thống quang học chủ yếu
trên hai mặt: tính năng tán sắc và tính năng nhiệt độ. Hệ quang của vật kính ảnh
nhiệt hoạt động trong vùng phổ hồng ngoại, do đó, hệ số chiết suất nhiệt, hệ số
giãn nở nhiệt và hằng số quang nhiệt lớn hơn rất nhiều so với các đặc trưng nhiệt
tương ứng của vật liệu quang học làm việc trong vùng phổ nhìn thấy (bảng 1).
Bảng 1. So sánh đặc trưng quang của một số vật liệu quang học thông thường và
một số vật liệu hồng ngoại [1, 2].
Vật liệu
Hệ số chiết suất nhiệt
dn
dT
(.10-6)
Hệ số giãn nở nhiệt
(α) (.10-6)
Hằng số quang nhiệt
1
Vt
n
(.10
-6
)
Vật liệu
quang học
thông
thường
ЛK3 -1,5 9,2 -10,1
K8 2,1 7,6 -1,5
БK8 3,2 6,2 1,6
Ф1 5,2 7,5 2,9
Vật liệu
hồng ngoại
Ge 396 6,1 126,287
ZnS 54 6,6 38,394
ZnSe 60 7,1 35,558
Si 150 2,6 59,2429
KRS5 -240 58 -232,9252
GASIR 55 17 19,7654
Các vật liệu thường dùng để chế tạo vật kính ảnh nhiệt như Ge, ZnS, ZnSe.. bên
cạnh hệ số giãn nở nhiệt còn có hệ số chiết suất nhiệt khá lớn, tức là tính chất
quang học của chúng rất nhạy với nhiệt độ [1]. Nếu như cho rằng, trong lòng các
linh kiện quang học nói riêng và toàn hệ quang nói chung không xuất hiện građien
nhiệt (tức là nhiệt độ của tất cả các điểm trong hệ quang tại một thời điểm là như
nhau) thì khi nhiệt độ của hệ tăng lên, chiết suất của các vật liệu quang học nói
chung là tăng lên, đồng thời khi đó, các kích thước của hệ quang cũng tăng lên, cụ
thể là các giá trị bán kính cong, chiều dày thấu kính, kích thước của khung thấu
Nghiên cứu khoa học công nghệ
Tạp chí Nghiên cứu KH&CN quân sự, Số Đặc san Viện Điện tử, 9 - 2020 51
kính và các ống dùng để ghép nối các chi tiết quang riêng biệt lại với nhau cũng
tăng lên. Kết quả của các sự thay đổi ở trên làm thay đổi tiêu cự của hệ quang làm
dịch chuyển mặt phẳng ảnh và gây ra một lượng quang sai defocus nhất định [2],
đồng thời làm thay đổi giá trị quang sai và đây là những nguyên nhân chính dẫn
đến sự thay đổi về chất lượng tạo ảnh của vật kính ảnh nhiệt. Lượng defocus sinh
ra khi nhiệt độ thay đổi có thể được bù bằng một số phương pháp như: dùng mặt nạ
pha, thụ động cơ khí, thụ động quang học, chủ động cơ điện,... mục đích để ảnh
của vật rơi vào đúng vị trí của đầu thu bức xạ tại bất cứ giá trị nhiệt độ nào. Về
nguyên lý làm việc, phương pháp chủ động cơ điện với cảm biến nhiệt tích hợp
trong thiết bị ảnh nhiệt để ghi nhận sự thay đổi nhiệt độ bên trong vật kính ảnh
nhiệt đồng thời tính toán lượng defocus thay đổi theo nhiệt độ trong dải rộng (-100C
÷ 60
0
C) và tự động thay đổi các thành phần trong vật kính như: mặt phẳng ảnh, vị
trí thấu kính,... bù lại lượng defocus đó. Bài báo này sẽ trình bày cơ sở lý thuyết
tính toán và phương pháp chủ động cơ điện bù ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt lên
chất lượng tạo ảnh của vật kính trong thiết bị ảnh nhiệt.
2. CƠ SỞ LÝ THUYẾT
2.1. Ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ lên chất lượng tạo ảnh hệ quang vật
kính ảnh nhiệt
Xét trường hợp vật kính được cấu tạo từ một thành phần đơn, khi thay đổi nhiệt
độ thì chiết suất của vật liệu quang học thay đổi theo quy luật sau [2]:
(0 0 );T Tn n (1)
Trong đó: n0 là chiết suất tại nhiệt độ T0, T là nhiệt độ thực tế làm việc, còn là hệ
số thay đổi chiết suất theo nhiệt độ hay còn gọi là hệ số chiết suất nhiệt của vật liệu.
Các thông số kết cấu của vật kính như độ dày, bán kính cong thay đổi theo
quy luật:
0 0
)0 0
1 ( ) ;
1 ( ;
d T T
r T T
d
r
(2)
Trong đó: d0 và r0 là giá trị chiều dày và bán kính cong tại nhiệt độ T0, là hệ
số giãn nở nhiệt của vật liệu làm thấu kính.
Nếu như coi thấu kính đơn là vô cùng mỏng, khi đó, từ công thức dùng để xác
định tiêu cự
1 2
1 1 1
( 1)( )n
f r r
, sau khi vi phân ta nhận được:
1 1 1 2
1
2 2 2
2 1 1 2
( ) ( )( )
r
dr drdf
dn n
f r r r
(3)
Thay dn T ; 1 1dr r T , 2 2dr r T vào biểu thức ở trên ta nhận được:
( )
1
df
T
f n
hay ' '( )
1
f f T
n
(4)
Trong đó,
0
T T T là hiệu nhiệt độ.
Kỹ thuật điện tử
H. A. Tú, , Đ. D. Điện, “Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi cơ điện bù nhiệt.” 52
Khi thay đổi tiêu cự, kéo theo sự thay đổi một lượng defocus [2, 4]:
'
w
20 2
8( '/ #)
f
f
và
2
20 20
w kw
(5)
Trong đó: / #F : Số f number; k: Số sóng;
w ,
20
: Lần lượt là hệ số và thông số defocus.
Giá trị tiêu cự 'f sinh ra khi thay đổi một lượng 0T T T được thể hiện theo
hình 1.
a) Dải tiêu cự khi nhiệt độ 200C
b) Dải tiêu cự khi nhiệt độ thay đổi từ
(-10
0
C ÷ 60
0
C)
Hình 1. Sơ đồ mô phỏng sự thay đổi tiêu cự khi nhiệt độ thay đổi
của một hệ thống quang học.
Như vậy, khi nhiệt độ thay đổi, dẫn đến tiêu cự hệ quang thay đổi, sinh ra một
lượng defocus làm thay đổi chất lượng ảnh của hệ quang, nếu vật kính được cấu
tạo từ nhiều thấu kính đơn (vật kính nhiều thành phần) thì sự thay đổi nhiệt độ sẽ
dẫn đến sự thay đổi tiêu cự (một lượng 'f ) của từng thấu kính trong hệ, làm tiêu
cự của cả hệ thay đổi và lượng defocus gây ra khi tiêu cự thay đổi là tổng hợp
lượng defocus của các thành phần trong hệ.
2.2. Các phương pháp bù ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ
Các phương pháp bù ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ lên vật kính ảnh nhiệt
thường dùng: thụ động cơ khí, thụ động quang học, chủ động cơ điện. Căn cứ vào
tính năng và công dụng của thiết bị để lựa chọn giải pháp bù nhiệt phù hợp.
a. Dạng thụ động cơ khí
Hình 2. Nguyên lý bù thụ động cơ khí.
Trên hình 2 là sơ đồ nguyên lý của vật kính có sử dụng phương pháp thụ động
cơ khí để bù ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ lên chất lượng tạo ảnh (hay vị trí
f f+ 'f
0T T T
Nghiên cứu khoa học công nghệ
Tạp chí Nghiên cứu KH&CN quân sự, Số Đặc san Viện Điện tử, 9 - 2020 53
mặt phẳng ảnh) của vật kính (nửa hình bên dưới) và sơ đồ hệ quang không sử dụng
phương pháp này (nửa hình bên trên).
Nguyên lý bù nhiệt như sau: khung của vật kính bao gồm ống trong (1) và ống
ngoài (3), giữa chúng được liên hệ với nhau bằng tấm đệm (2). Kích thước (chiều
dài) và vật liệu làm tấm đệm (mà tính chất quan trọng nhất của nó là hệ số giãn nở
nhiệt) được tính toán và lựa chọn sao cho khi nhiệt độ làm việc của vật kính thay
đổi thì sự giãn nở của tấm đệm sẽ bù trừ được sự sai lệch do sự giãn nở của ống
bên trong và ống bên ngoài để vị trí mặt phẳng ảnh của vật kính không thay đổi.
Nhược điểm của phương pháp là làm phức tạp kết cấu cơ khí của vật kính, từ đó
tăng khối lượng, kích thước và giá thành của vật kính nói riêng và của khí tài nói
chung. Bên cạnh đó, việc lựa chọn các vật liệu làm khung và tấm đệm cũng không
hề đơn giản, bên cạnh các tính chất về nhiệt cần thiết chúng còn có các tính chất
không mong muốn khác. Vì vậy, phương pháp này chủ yếu ứng dụng trong các
ống kính ảnh nhiệt một trường nhìn và ít được ứng dụng trong các thiết bị có sự
thay đổi nhiệt lớn như đầu tự dẫn tên lửa hoặc các trạm quan sát đặt ngoài trời..
b. Dạng thụ động quang học
Đặc điểm của phương pháp là tính toán trước ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt
đến chất lượng tạo ảnh của hệ thống quang học, trên cơ sở đó lựa chọn giải pháp
thiết kế bù nhiệt bằng nguyên lý quang học.
Các giải pháp bù nhiệt bằng nguyên lý thụ động quang học như: sử dụng tổ hợp
các vật liệu quang học có đặc trưng nhiệt độ khác nhau để thiết kế bù nhiệt, giải
pháp này có nhược điểm chính là vật liệu được lựa chọn thiết kế không phải lúc
nào cũng có sẵn và đôi khi chọn được vật liệu cũng làm cho giá thành sản phẩm
tăng lên nhiều. Ngoài ra, trong một số trường hợp đặc biệt đòi hỏi hệ thống quang
học hoạt động ở dải nhiệt độ rộng thì việc lựa chọn vật liệu liên hợp không phải lúc
nào cũng là tối ưu. Một giải pháp thụ động quang học khác là thiết kế lai ghép vào
hệ quang một thành phần quang học [5], thành phần lai ghép thêm để bù nhiệt này
được xem như một linh kiện quang học gọi chung là mặt nạ pha. Mặt nạ pha khi lai
ghép trong hệ thống quang học có tác dụng điều biến pha của mặt sóng đến dẫn
đến thay đổi tính chất tạo ảnh của hệ thống quang học và mặt nạ pha thường được
đặt tại đồng tử của hệ thống quang học (hình 3).
Hình 3. Sơ đồ khối lai ghép mặt nạ pha trong hệ thống quang học.
Mặt nạ pha (3) thêm vào hệ thống quang học của TBAN, đặt tại mặt phẳng
đồng tử (2), ảnh nhận được trên đầu thu (4) được thông qua quá trình xử lý số (5)
để nâng cao chất lượng ảnh và thu được ảnh cuối cùng (6). Ưu điểm của giải pháp
lai ghép mặt nạ pha là có thể bù nhiệt trong dải rộng, tuy nhiên, nhược điểm chính
là việc gia công chế tạo mặt nạ pha đòi hỏi công nghệ cao, giá thành đắt, do mặt nạ
3 2
5 6
4
Kỹ thuật điện tử
H. A. Tú, , Đ. D. Điện, “Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi cơ điện bù nhiệt.” 54
pha có hình phức tạp dạng phi cầu, bậc 3, phi tuyến, vòng xuyến,và không phải
lúc nào cũng thực hiện được. Mặt khác, khi sử dụng mặt nạ pha phải thêm bước xử
lý số rất phức tạp không phù hợp với các hệ thống quang học đơn giản. Vì vậy, mà
giải pháp dùng mặt nạ pha bù nhiệt rất ít khi được sử dụng.
c. Dạng chủ động cơ điện
Thông qua nghiên cứu nguyên lý hoạt động của hệ thống quang học chúng ta
biết rằng, tiêu cự của hệ thống quang học có thể được thay đổi bằng cách thực hiện
sự thay đổi vị trí dọc theo quang trục của mỗi thành phần thấu kính trong nhóm các
thấu kính, dịch chuyển đầu thu bức xạ hoặc dịch chuyển toàn bộ hệ vật kính thông
qua nguyên lý này có thể bù được sự dịch chuyển mặt phẳng ảnh cũng như nâng
cao chất lượng ảnh của hệ thống quang học. Để tính năng của hệ thống quang học
không thay đổi, tiến hành thay đổi vị trí mặt phẳng ảnh của hệ thống bằng cách sử
dụng hai phương pháp hiệu chỉnh: bằng tay và động cơ điện dịch chuyển bằng dẫn
động cơ khí. Để nâng cao độ nhậy hiệu chỉnh, đặc biệt phải đảm bảo trục quang
của hệ thống không thay đổi, phương pháp này yêu cầu sử dụng cơ cấu chuyển
động cơ khí phức tạp có độ chính xác cao. Nguyên lý của phương pháp bù này đơn
giản, dễ thực hiện. Hình 4 là sơ đồ nguyên lý của phương pháp bù ảnh hưởng sự
thay đổi nhiệt độ dạng chủ động cơ điện.
Hình 4. Nguyên lý bù chủ động cơ điện.
Trong hình 4 là sơ đồ hệ quang mà ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ được bù
bằng phương pháp chủ động cơ điện, trong đó có sử dụng cảm biến nhiệt độ để đo
nhiệt độ môi trường, sau đó truyền tín hiệu thu được từ cảm biến nhiệt độ đến bộ
điều khiển. Bộ điều khiển (hay thiết bị điều khiển) thông qua sự thay đổi của nhiệt
độ tính toán lượng dịch chuyển vị trí tương đối đồng thời truyền cho động cơ điện
điều khiển và làm nó chuyển động, từ đó mà hoàn thành việc bù theo nguyên lý cơ
điện chủ động.
Phương pháp bù chủ động cơ điện có thể sử dụng cho các ống kính một trường
nhìn, hai trường nhìn hoặc hệ thống Zoom liên tục, với nhiệt độ thay đổi trong dải
rộng. Dựa trên nguyên lý này, chúng ta sẽ tính toán lượng thay đổi chất lượng tạo
ảnh của vật kính ảnh nhiệt khi nhiệt độ thay đổi dải rộng, để bù nhiệt bằng giải
pháp chủ động cơ điện.
Nghiên cứu khoa học công nghệ
Tạp chí Nghiên cứu KH&CN quân sự, Số Đặc san Viện Điện tử, 9 - 2020 55
3. TÍNH TOÁN SỰ THAY ĐỔI CHẤT LƯỢNG TẠO ẢNH CỦA VẬT KÍNH
ẢNH NHIỆT KHI NHIỆT ĐỘ THAY ĐỔI VÀ TỰ ĐỘNG BÙ NHIỆT BẰNG
GIẢI PHÁP CHỦ ĐỘNG CƠ ĐIỆN
Việc bù nhiệt cho vật kính ảnh nhiệt bằng giải pháp chủ động cơ điện được tiến
hành với một vật kính ảnh nhiệt đã được thiết kế tại nhiệt độ làm việc là 200C. Sơ
đồ và các thông số kỹ thuật của nó được thể hiện trên bảng 2. Các thông số kết cấu
của nó thể hiện trên bảng 3.
Bảng 2. Sơ đồ và các thông số kỹ thuật của vật kính ảnh nhiệt thiết kế sẵn.
Thông số kỹ thuật vật kính:
- Vùng phổ hoạt động: 8-14µm
- Tiêu cự: 80mm
- Thị giới: 9,70
- Số khẩu độ: F/1,1
- Nhiệt độ thiết kế: 200C
- kích thước phần tử thu ảnh
của đầu thu : (17x17)µm
Bảng 3. Các thông số kết cấu của vật kính ảnh nhiệt.
Dữ liệu Bán kính Chiều dày Thủy tinh
Bán kính
thông
quang
Vật Tiêu chuẩn ∞ ∞ ∞
STO Tiêu chuẩn 94,2092 7,5 Germanium 37
2 Tiêu chuẩn 137,6162 10 35,644
3 Tiêu chuẩn 243,6081 6 Germanium 32,822
4 Tiêu chuẩn 170,6648 70 31,525
5 Tiêu chuẩn 35,7316 8,5 Germanium 16,707
6 Tiêu chuẩn 34,93023 11,61 13,563
7 Tiêu chuẩn ∞ 0,66 Silicon 9,034
8 Tiêu chuẩn ∞ 4,27 8,945
Ảnh Tiêu chuẩn ∞ 6,79
Cho rằng, trong điều kiện làm việc của mình, nhiệt độ của vật kính có thể thay
đổi trong khoảng từ -100C đến 600C. Trên hình 1.a là giá trị hàm MTF của vật kính
tại các nhiệt độ làm việc khác nhau. Dễ dàng nhận thấy rằng, tại 200C chất lượng
ảnh của vật kính là khá tốt hệ số tương phản đạt k =0,45 và độ phân giải đạt 50 cặp
vạch/mm, tuy nhiên, khi nhiệt độ làm việc thay đổi, chất lượng ảnh của vật kính
giảm đi rất nhanh. Tại các giá trị nhiệt độ -100C và 600C hệ số tương phản k=0 và
độ phân giải chỉ đạt (8÷10) cặp vạch/mm, tức là độ phân giải của vật kính rất thấp.
Như vậy, có thể cho rằng, trong điều kiện nhiệt độ thay đổi thì vật kính trên không
đạt yêu cầu về chất lượng tạo ảnh.
Khi nhiệt độ thay đổi -100C thì lượng thay đổi giá trị quang sai defocus
là 20 1,5w , dẫn đến lượng thay đổi tiêu cự 0,26(mm) theo công thức:
Kỹ thuật điện tử
H. A. Tú, , Đ. D. Điện, “Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi cơ điện bù nhiệt.” 56
3
0, 26( )
'
w ' 1,5*8* 4*0,55*10
20 2
8( '/ #)
mm
f
f
f
Sử dụng phương pháp chủ động cơ điện (hình 4) với cảm biến nhiệt độ sẽ biết
được giá trị nhiệt độ thay đổi tương ứng với lượng dịch chuyển thay đổi: mặt
phẳng ảnh hoặc các thành phần trong hệ thống quang học đảm bảo chất lượng ảnh
tốt nhất. Vật kính này được thiết kế với mặt phẳng ảnh cố định, và thay đổi thấu
kính cuối cùng dịch chuyển một lượng -0,17mm như bảng 4.
Bảng 4. Các thông số kết cấu của vật kính ảnh nhiệt khi nhiệt độ là -100C.
Dữ liệu Bán kính Chiều dày Thủy tinh
Bán kính
thông
quang
Vật Tiêu chuẩn ∞ ∞ ∞
STO Tiêu chuẩn 94,2092 7,5 Germanium 37
2 Tiêu chuẩn 137,6162 10 35,644
3 Tiêu chuẩn 243,6081 6 Germanium 32,822
4 Tiêu chuẩn 170,6648 70,17 31,525
5 Tiêu chuẩn 35,7316 8,5 Germanium 16,707
6 Tiêu chuẩn 34,93023 11,77 13,563
7 Tiêu chuẩn ∞ 0,66 Silicon 9,034
8 Tiêu chuẩn ∞ 4,27 8,945
Ảnh Tiêu chuẩn ∞ 6,79
Tương tự ở 600C lượng dịch chuyển mặt phẳng ảnh về phía trước hệ quang của
hệ quang vật kính -0,29mm và khoảng thay đổi thấu kính cuối cùng dịch chuyển
một lượng -0,21mm như bảng 5.
Bảng 5. Các thông số kết cấu của vật kính ảnh nhiệt khi nhiệt độ là 600C.
Dữ liệu Bán kính Chiều dày Thủy tinh
Bán kính
thông
quang
Vật Tiêu chuẩn ∞ ∞ ∞
STO Tiêu chuẩn 94,2092 7,5 Germanium 37
2 Tiêu chuẩn 137,6162 10 35,644
3 Tiêu chuẩn 243,6081 6 Germanium 32,822
4 Tiêu chuẩn 170,6648 69.79 31,525
5 Tiêu chuẩn 35,7316 8,5 Germanium 16,707
6 Tiêu chuẩn 34,93023 11,39 13,563
7 Tiêu chuẩn ∞ 0,66 Silicon 9,034
8 Tiêu chuẩn ∞ 4,27 8,945
Ảnh Tiêu chuẩn ∞ 6,79
4. ĐÁNH GIÁ KẾT QUẢ
Hàm truyền MTF của vật kính tại các nhiệt độ làm việc khác nhau khi chưa bù
nhiệt và khi thay đổi thành phần thấu kính bù nhiệt được thể hiện trên hình 5. Có
Nghiên cứu khoa học công nghệ
Tạp chí Nghiên cứu KH&CN quân sự, Số Đặc san Viện Điện tử, 9 - 2020 57
thể thấy rằng, hàm MTF của vật kính tại nhiệt độ 20 0C có hệ số tương phản cao,
tần số vào khoảng 50 cặp vạch/mm. Tuy nhiên, ở nhiệt độ -10 0C và 60 0C , giá trị
hàm MTF của nó sụt giảm nhanh, tần số cắt chỉ đạt 10 cặp vạch/mm. Khi thay
đổi thành phần thấu kính cuối cùng trong hệ quang ở trên thì hàm MTF của nó có
hệ số tương phản đạt được rất đều trong toàn bộ dải nhiệt độ làm việc
0 0( 10 60 )C C với tần số cắt được giữ nguyên như tại nhiệt độ 200C là 50 cặp
vạch/mm.
a) b)
Hình 5. Hàm truyền MTF của vật kính khi chưa dịch chuyển thành phần thấu kính
(a) và khi dịch chuyển (b) tại các nhiệt độ làm việc khác nhau.
5. KẾT LUẬN
Phương pháp bù nhiệt chủ động cơ điện (hình 4) đơn giản đảm bảo chất lượng
ảnh đều trên toàn bộ dải nhiệt độ thay đổi của vật kính trong khoảng từ -100C đến
60
0
C. Kết quả thiết kế và so sánh đã chứng minh được hiệu quả của phương pháp
t =20 0C
t =60 0C t =60
0C
t =-10 0C t =-10 0C
số cặp vạch/mm
số cặp vạch/mm
số cặp vạch/mm
số cặp vạch/mm
số cặp vạch/mm
Kỹ thuật điện tử
H. A. Tú, , Đ. D. Điện, “Nghiên cứu, tính toán sự thay đổi cơ điện bù nhiệt.” 58
trong việc bù ảnh hưởng của sự thay đổi nhiệt độ dải rộng lên chất lượng tạo ảnh
của hệ quang vật kính trong thiết bị ảnh nhiệt.
Lời cảm ơn: Nghiên cứu này được thực hiện nhờ sự hỗ trợ kinh phí của Đề tài nhiệm vụ cấp
Sở khoa học và công nghệ TP.HCM số: 105/2019/HĐ-QPTKHCN ngày 24/12/2019.
TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1]. Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г. Инфракрасные системы “смотрящего”
типа. М.: Логос, 2004.
[2]. Rogers, P. J. & Roberts, M. (1995). “Thermal compensation Techniques”
[3]. Jamison T.H. “Thermal effects in optical systems” // Opt. Eng. 1981. V. 20. P.
156−160.
[4]. G. Muyo and A. R. Harvey. “Wavefront Coding for Athermalization of
Infrared Imaging Systems”. 2004.
[5]. Goodman, J. W. “Introduction to Fourier Optics”. 2nd edn, 1996.
[6]. H.H. Hopkins, “Wave theory of aberrations” (University, London, 1950).
[7]. K. H. Brenner, A. W. Lohmann, and J. Ojeda-Castaneda. “The ambiguity
function as a polar display of the OTF”. Opt. Commun. 1983.
ABSTRACT
THE THERMAL EFFECTS ON THE IMAGING QUALITY
OF THERMAL LENS AND SOLUTIONS
TO ACTIVE THERMAL COMPENSATION
In the paper, the theoretical basis for calculating the effect of wide-
range environment temperature on the imaging quality of thermal lens is
presented and the solutions to thermal compensate are provided. When the
temperature changes, the refractive index, the radius of curvature, the
thickness and focal length of the objective system change; causing
defocusing that reduces the image quality of the objective lens. The active
solution using electric motor with the temperature sensor calculates the
temperature variation, and automatically compensate for the defocus
generated by that change. The results show that the use of the electric
motor solution has ensured the image quality of the objective lens in the
wide-range working temperature (-10
0
C600C).
Keywords: Thermal objective; Defocus; Electric motor master.
Nhận bài ngày 11 tháng 02 năm 2020
Hoàn thiện ngày 27 tháng 7 năm 2020
Chấp nhận đăng ngày 28 tháng 8 năm 2020
Địa chỉ: 1Viện Vật lý kỹ thuật, Viện KHCN quân sự;
2Viện Điện tử, Viện KHCN quân sự .
*
Email: hoanganhtuvlkt@gmail.com.